一、技术指标
型号: |
I**-7300 |
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测试对像: |
粉末、固体、液体 |
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元素分析范围: |
钠(Na)-**(U) |
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同时***多可测元素: |
36种 |
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含量分析范围: |
1ppm~99.99% |
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工作稳定性: |
总荧光强度为0.1% |
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测试时间: |
60~200秒 |
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探测器分辨率: |
127eV±5 |
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多道分析器: |
4096道 |
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进口**DSP数字信号处理芯片 |
64位处理 |
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X射线光管: |
功率50W,靶材可选Ag、Rh、W、Mo |
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高压电源: |
电压范围0~50KV,稳定度每小时小于0.05% |
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***低检出限: |
Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm,Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm,Cl≤5ppm |
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探测系统: |
**自动对点探测系统鼠标点击,自动对点 |
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升降软件系统: |
电控**自动机盖升降软件**控制 |
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外型尺寸: |
720mm×560mm×450mm(不包括支脚) |
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测量仓: |
400mm×280mm×100mm |
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重量: |
70Kg |
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镀层技术参数: |
||
可测镀层数: |
***多可达5层 |
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镀层种类: |
单金属镀层、合金镀层 |
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镀层识别精度: |
分析检出限可达2ppm,***薄可测试0.005μm。 |
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厚度测试范围: |
轻金属(如:Ti、Cr等)0.01~50um 中金属(如:Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等)0.01~30um 重金属(如:Pt、Au、Pb等)0.005~15um |
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标准配置
配置 |
数量 |
单位 |
仪器主机部分主要配置 |
1 |
套 |
1. SDD硅漂移探测器(进口) AMPTEK |
1 |
套 |
2.低功率X光管 |
1 |
个 |
3. 高压电源 |
1 |
个 |
4. 2048道数字多道分析器 |
1 |
套 |
5. 高精密CCD |
1 |
个 |
6. 滤光片组 |
5 |
组 |
7. 准直器:8种准直器自动切换 |
6 |
个 |
仪器外围配置 |
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联想商务一体机 |
1 |
套 |
2. HP彩色喷墨打印机 |
1 |
台 |
3. 银校正片 |
1 |
片 |
4. 塑料标准样品: EC681K |
1 |
袋 |
5. 样品杯、麦拉膜 |
若干 |
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软件配置(选配) |
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RoHS/无卤检测 |
1 |
套 |
优点:
1、可测ROHS及金属镀层,ROHS/无卤元素分析可以一次性测试完成,无需分开测试。
2、核心配件均采用进口件
3、仪器测试过程中无意开盖,仪器装有开盖切断开关,可预防辐身安**。
4、每年进行仪器免费检测调校
5、X光管设计使用寿命为2万小时.德谱**的延长光管使用寿命的技术: (1)、光管自动防老化功能。
(2)、自动跟进不同材质选择不同的光管电流。
(3)、强大的散热系统**光管正常的工作条件;